電磁界シミュレーションリソース|Remcom

任意形状の薄い抵抗シートを解析する時間領域法|Remcom

文:ケイトリン・ブリックリー|2017年1月28日 17時23分00秒

れている。

任意形状の薄い抵抗シート(TRS)を解析するための時間領域法を示す。この方法は、表面インピーダンス行列と区分線形再帰畳み込み技術を利用する。TRSの形状や材料に依存しない極-残差対の抽出データを与える。TRSの有限差分時間領域(FDTD)シミュレーションの安定条件を初めて提供した。この方法は、任意形状のTRSを解析するためのコンフォーマルスキームと組み合わされている。提案手法の精度と安定性を示すために、3つのテストケースのシミュレーション結果を示す。