ESD試験（静電気放電試験）は、電子機器メーカーによって世界中で利用されており、米国規格協会（ANSI）、JEDEC、国際電気標準会議（IEC）などを含む組織の数多くの規格が使用されています。ESD 試験では、多くのハードウェア試作品を使用する必要があり、時間とコストがかかります。静電気放電試験プロセスをシミュレートし、ワイヤレス・デバイスの ESD ダメージを受けやすい場所をピンポイントで特定できる機能は非常に価値があり、エンジニアは ESD ダメージを最小限に抑える製品設計に必要な試作品の数を減らすことができます。
2019 IEEE MTT-S NEMO会議でのこのプレゼンテーションは、XFdtd 3D電磁場シミュレーションソフトウェアのESDシミュレーション機能の数々を要約したものです。XFdtdを使用するエンジニアは、ESDシミュレータ波形を利用し、材料の誘電強度を定義し、ESD設計の弱点を簡単に見つけることができます。さらに、XFdtdシミュレーション内の電子回路部品は、過電圧と過電流を監視します。定格設計パラメータを超えたコンポーネントは永久的な損傷の対象となり、XFdtdからエンジニアに報告されます。
XFdtd の ESD シミュレーション機能は、ESD エンジニアに貴重なツールを提供し、設計段階で ESD 保護を最適化することで、製造時の ESD 不具合や購入後の保証クレームを低減します。
